电子元器件应用2012，Vol.14Issue(6) ：14-16.DOI:10.3969/j.issn.1563-4795.2012.06.004

点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响

The radius changes of point defect on the impact of THz modulator based on direct coupling photonic crystal

宋丽军 陈鹤鸣 赵新彦 汪静丽
电子元器件应用2012，Vol.14Issue(6) ：14-16.DOI:10.3969/j.issn.1563-4795.2012.06.004
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点缺陷半径变化对光子晶体直接耦合结构THz波调制器性能的影响

The radius changes of point defect on the impact of THz modulator based on direct coupling photonic crystal

宋丽军 1陈鹤鸣 1赵新彦 1汪静丽1
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作者信息

  • 1. 南京邮电大学光通信研究所,江苏 南京 210003
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摘要

点缺陷构成的微腔对THz波调制器的性能起着决定性的作用,而在实际制作加工过程中,由于工艺的原因,光子晶体的结构参量会产生偏差,难以制备出孔径毫无偏差的光子晶体,且介质柱的放置位置不能达到完全精确,因此光子晶体器件的性能也因此会受到一定程度的影响.文中重点讨论了点缺陷介质柱的半径变化对直接耦合结构的THz波调制器性能的影响,为光子晶体调制器的实际制作和相应的误差分析提供了理论帮助.

关键词

复式晶格/光子晶体/直接耦合/太赫兹波/调制器

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基金项目

国家自然科学基金(61077084)

出版年

2012
电子元器件应用
中国电子元件行业协会 中国电子学会元件分会

电子元器件应用

ISSN：1563-4795
参考文献量2
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