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电子元器件应用
2012,
Vol.
14
Issue
(11) :
99-100.
晶闸管烧坏的真实原因解析
SCR burnt out the real reason analysis
陈妍
电子元器件应用
2012,
Vol.
14
Issue
(11) :
99-100.
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来源:
NETL
NSTL
维普
万方数据
晶闸管烧坏的真实原因解析
SCR burnt out the real reason analysis
陈妍
1
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作者信息
1.
阜新嘉隆电子有限公司 阜新123000
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摘要
文中从专业的角度介绍了晶闸管在工作过程中烧坏的真实原因,解开了以往从表面现象而判断晶闸管烧坏的误区.
关键词
晶闸管
/
dv/dt
/
di/dt
/
开通时间
/
关断时间
引用本文
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出版年
2012
电子元器件应用
中国电子元件行业协会 中国电子学会元件分会
电子元器件应用
ISSN:
1563-4795
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参考文献量
2
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