国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
建筑科技
2024,
Vol.
8
Issue
(10) :
53-56,65.
高密度电阻率成像法渗漏检测效果分析
姚志
建筑科技
2024,
Vol.
8
Issue
(10) :
53-56,65.
引用
认领
✕
来源:
维普
万方数据
高密度电阻率成像法渗漏检测效果分析
姚志
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
天津工程咨询有限公司,天津 300221
折叠
摘要
基坑围护渗漏问题是深基坑施工中常见的风险问题.以天津市轨道交通7号线肿瘤医院站工程建设为例,基于高密度电阻率成像法的技术原理,阐述采用高密度电阻率成像法对基坑围护结构渗漏进行探测的过程,并对结果进行分析.探测结果表明:基坑围护结构整体上防渗效果较好,不存在较大的渗漏异常,但部分剖面存在微渗异常,异常深度较大.
关键词
高密度电阻率成像法
/
基坑围护结构
/
渗漏模型
引用本文
复制引用
出版年
2024
建筑科技
中国城乡建设粉煤灰利用技术开发中心
建筑科技
影响因子:
0.233
ISSN:
1007-046X
引用
认领
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果