高长径比探针在高分子纳米纤维膜原子力显微镜扫描上的应用

扫码查看

原文链接

NETL
NSTL
万方数据
维普

中文摘要：原子力显微镜技术是用于表征表面纳米级形貌的一种重要手段,对于纳米纤维膜等聚合物表面分析具有一定的优势.本文详细叙述了原子力显微镜的基本原理及操作步骤,研究了扫描模式、测试参数、探针类型等因素对较大粗糙度的纳米纤维膜测试结果的影响.结果表明,高长径比探针比常规探针更能真实的反应表面的形貌信息.

外文标题：Application of high aspect ratio probe in atomic force microscope scanning of polymer nanofiber membrane

外文关键词：

Atomic force microscopyNanofibrous membranesSurface roughness analysisHigh aspect ratio probe

作者：

严定策、韩超、丁雨葵、宋武林、程红

展开 >

作者单位：

华中科技大学分析测试中心

华中科技大学化学与化工学院,武汉 430074

关键词：

原子力显微镜纳米纤维膜表面粗糙度分析高长径探针

出版年：

2023

DOI：

10.3969/j.issn.1001-232x.2023.05.010

分析仪器

北京市北分仪器技术有限责任公司（北京分析仪器研究所）中国仪器仪表行业协会

分析仪器

CSTPCD

影响因子：0.306

ISSN：1001-232X

年,卷(期)：2023.(5)

参考文献量1