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多光谱多光轴设备光轴平行性测量装置研制

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多光谱多光轴设备光轴平行性校准装置用于多传感器小型光电测量设备中各探测单元探测光轴平行性的标定和测量,同时具有提供无穷远目标的功能.本文所研制的多光谱多光轴设备校准装置采用卡塞格林反射式平行光管结构,有效通光口径ψ350 mm,可对可见光系统、中波红外系统、长波红外系统及激光测距系统进行光轴平行性的测量,测量精度优于5〞.
Development of Measuring Optical-axis Parallelism Instrument for Multispectral and Multi Axial Facility

叶露、赵建川

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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033

海军驻长春地区军代表室,吉林长春130033

多光谱多光轴系统 光轴平行性 测量仪器

2011

10.3788/OMEI20112812.0032

光机电信息
中国光学学会

光机电信息

影响因子：0.254
ISSN：1007-1180
年,卷(期)：2011.28(12)
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