国外电子元器件2008，Issue(1) ：23-25.

基于BIST的编译码器IP核测试

Test of encoder and decoder IP core based on BIST

谢志远 杨兴 胡正伟
国外电子元器件2008，Issue(1) ：23-25.
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基于BIST的编译码器IP核测试

Test of encoder and decoder IP core based on BIST

谢志远 1杨兴 1胡正伟1
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作者信息

  • 1. 华北电力大学,电子与通信工程系,河北,保定,071003
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摘要

介绍了用于IP核测试的内建自测试方法(BIST)和面向测试的IP核设计方法,指出基于IP核的系统芯片(SOC)的测试、验证以及相关性测试具有较大难度,传统的测试和验证方法均难以满足.以编译码器IP核为例,说明了基于BIST的编译码器IP核测试的基本实现原理和具体实现过程,通过加入测试外壳实现了对IP核的访问、隔离和控制,提高了IP核的可测性.

关键词

电路与系统/可测性设计/内建自测试/测试外壳

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出版年

2008
国外电子元器件
西安三才科技实业有限公司

国外电子元器件

CSTPCD
影响因子：0.358
ISSN：1006-6977
参考文献量4
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