国外电子元器件2008，Vol.16Issue(7) ：10-12.

基于MCU+CPLD的相位差和频率的测量方法研究及实现

Research and realization of phase measurement based on MCU+CPLD

缪晓中
国外电子元器件2008，Vol.16Issue(7) ：10-12.
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基于MCU+CPLD的相位差和频率的测量方法研究及实现

Research and realization of phase measurement based on MCU+CPLD

缪晓中1
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作者信息

  • 1. 无锡职业技术学院电子工程系,江苏无锡,214121
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摘要

介绍了一种基于复杂可编程逻辑器件CPLD与单片机的相位和频率测量方法,其中单片机完成控制和数据处理.给出了硬件原理图和CPLD设计核心模块,可有效提高测量精度和抗干扰能力.

关键词

复杂可编程逻辑器件/单片机/相位测量

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基金项目

江苏省高校"青蓝工程"优秀青年骨干教师培养对象资助项目()

出版年

2008
国外电子元器件
西安三才科技实业有限公司

国外电子元器件

CSTPCD
影响因子：0.358
ISSN：1006-6977
被引量3
参考文献量2
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