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国外电子元器件
2008,
Vol.
16
Issue
(12) :
9-11.
频率特性测试仪
A tester for frequency response characteristic
施智强
何欣
唐铭杰
沈骋曦
国外电子元器件
2008,
Vol.
16
Issue
(12) :
9-11.
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来源:
NETL
NSTL
维普
万方数据
频率特性测试仪
A tester for frequency response characteristic
施智强
1
何欣
1
唐铭杰
1
沈骋曦
1
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作者信息
1.
武汉大学,电子信息学院,湖北,武汉,430079
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摘要
以集成的直接数字合成器(DDS)AD9851为核心,利用现场可编程门阵列(FPGA)及外围测量电路,设计并实现了一个频率特性测试仪,可用于测试某一特定网络的频率特性.并给出了幅频和相频特性曲线,并采用软件修正方法提高了整个系统输出的稳定性和可靠性.
关键词
幅频特性
/
相频特性
/
现场可编程门阵列(FPGA)
/
单片机
/
DDS
引用本文
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出版年
2008
国外电子元器件
西安三才科技实业有限公司
国外电子元器件
CSTPCD
影响因子:
0.358
ISSN:
1006-6977
引用
认领
被引量
1
参考文献量
3
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引用本文
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