国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
智能芯片电缆的芯片读取可靠性试验方法
智能芯片电缆的芯片读取可靠性试验方法
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域，可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
收起全部
展开查看外文信息
作者：
张鹏、刘宇、陈东
展开 >
作者单位：
远东电缆有限公司,江苏宜兴 214257
远东海缆有限公司,江苏南通 226400
出版年：
2024
DOI：
10.19467/j.cnki.1006-1908.2024.01.011
光纤与电缆及其应用技术
中国电子科技集团公司第二十三研究所
光纤与电缆及其应用技术
影响因子：
0.209
ISSN：
1006-1908
年,卷(期)：
2024.
(1)
