摘要
X 射线荧光分析矿物元素的方法在地质矿产资源的勘探中已经有近 50 年的应用历史,以钻井过程中所获取的岩心或岩屑为分析对象.由于组成岩石的不同矿物元素具有与之相对应的特征 X 射线,根据矿物分子结构,被测样品的 X 射线荧光强度与元素含量间具有确定的函数关系,通过元素的组合特征可识别岩性,进而判断地层.X 射线荧光分析仪可以测量从 Na 到 U 的系列元素,根据现场应用,页岩气藏地层划分的指向元素选定为 Ca、Mg、Al、Si、P、K、Ti、Mn、Fe、S、nI、Cr、Th 共 13 种元素,进行解释评价,确定地层.
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