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航空电子硬件单粒子效应故障率的审定数据要求探索

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航空电子硬件单粒子效应故障率是系统安全性分析过程中的重要基础数据.复杂器件的技术趋势赋予航空电子硬件单粒子效应故障率新的内涵.本文基于国际上航空电子硬件单粒子效应故障率计算要求的跟踪梳理分析,探索性地提出了一些复杂电子硬件单粒子效应故障率的审定数据要求,可以为设计师提供参考.
The Exploration on the Airworthiness Certification Data Requirements for the Single Event Effect Failure Rate of Airborne Electronic Hardware
The Single Event Effect Failure rate of Avionic Electronic Hardware is the important elementary data input in the System Safety Analysis process.The complex technical trends of new complex devices bring new concepts into the Single Event Effect Failure rate.Based on the study on findings of the available international requirements on SEE Failure rate,this paper explores the Airworthiness Certification Data Requirements on the Single Event Effect Failure for complex Airborne Electronic Hardware which may be a reference for designers.

airborne electronic hardware(AEH)single event effect(SEE)failure rateairworthiness certification data requirementscomplex devicessystem safety analysis

张平、陈冬梅、薛海红、白桦、孙旭朋

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中国民用航空上海航空器适航审定中心,上海 200232

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司,北京 100089

航空工业第一飞机设计研究院,西安 710089

航空电子硬件 单粒子效应故障率 适航 审定数据要求 复杂器件 系统安全性

2024

环境技术
广州电器科学研究院有限公司

环境技术

CSTPCD
影响因子:0.995
ISSN:1004-7204
年,卷(期):2024.42(7)