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简单与复杂硬件单粒子效应故障率的数据获取方法探索

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航空电子硬件单粒子效应故障率是系统安全性分析过程中的重要基础数据.航空电子硬件由于简单与复杂硬件两种类型的技术定义不同,其单粒子效应故障率的数据获取方法不同.本文基于AMC 20-152A-2022《航空电子硬件开发保证》的跟踪梳理分析,研究提出了简单与复杂硬件单粒子效应故障率的数据获取方法探索,可以为设计师提供参考.
The Exploration on the Data Acquisition of the Single Event Effect Failure Rate of Simple and Complex Airborne Electronic Hardware
The Single Event Effect Failure rate of Airborne Electronic Hardware is the important elementary data input in the System Safety Analysis process.Due to the different technical definition of the classification of Simple/Complex Hardware,the data acquisition methods may differ for the Single Event Effect Failure rate.Based on the study of AMC 20-152A-2022 Development Assurance for Airborne Electronic Hardware(AEH),this paper provides a set of understandings on the Data Acquisition on the Single Event Effect Failure for Simple and Complex Airborne Electronic Hardware,which may be a reference for designers.

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张平、陈冬梅、薛海红、白桦、孙旭朋

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中国民用航空上海航空器适航审定中心,上海 200232

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司,北京 100089

航空工业第一飞机设计研究院,西安 710089

航空电子硬件 单粒子效应故障率 简单硬件 复杂硬件 数据获取方法

2024

环境技术
广州电器科学研究院有限公司

环境技术

CSTPCD
影响因子:0.995
ISSN:1004-7204
年,卷(期):2024.42(7)