集成电路测试管理系统的设计与实现
Design and Implementation of Integrated Circuit Test Management System
郭福洲1
作者信息
- 1. 黄冈职业技术学院 电子信息学院,湖北 438002
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摘要
阐述在集成电路生产中的测试管理系统设计,该系统能够实现对测试数据的存储和管理,支持数据分析和测试报告的生成,提供测试参数配置和测试流程管理功能.
Abstract
This paper expounds the design of a test management system in integrated circuit production,which can store and manage test data,support data analysis and test report generation,provide test parameter configuration and test process management functions.
关键词
集成电路/测试管理系统/测试流程管理Key words
integrated circuits/testing management systems/testing process management引用本文复制引用
出版年
2024
NETL
NSTL
维普
万方数据