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机电元件
2024,
Vol.
44
Issue
(1) :
25-29.
DOI:
10.3969/j.issn.1000-6133.2024.01.008
大功率继电器密封性提升工艺研究
赖业方
韦明彰
陈俊峰
李建军
张银娣
机电元件
2024,
Vol.
44
Issue
(1) :
25-29.
DOI:
10.3969/j.issn.1000-6133.2024.01.008
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来源:
维普
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大功率继电器密封性提升工艺研究
赖业方
1
韦明彰
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陈俊峰
1
李建军
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张银娣
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作者信息
1.
桂林航天电子有限公司,广西桂林,541002
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摘要
密封性是继电器主要考核指标之一,影响密封性的主要因素有金属件与玻璃的封接质量、整件焊接后封接界面的质量.某型号大功率继电器在整件点焊、激光焊后,密封性能下降较大.通过软件模拟焊接过程,分析发现焊接的热冲击对底座组的封接界面影响较大.本文主要对影响封接界面强度的因素进行分析,研究引出杆氧化工艺,从根本上提升封接界面强度.另外,通过对焊接参数进行优化,减少焊接热冲击对封接界面的损坏.
关键词
继电器
/
密封性
/
氧化
/
封接界面
/
焊接
/
热冲击
引用本文
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出版年
2024
机电元件
国营第七九六厂(四川华丰企业集团有限公司)
机电元件
影响因子:
0.123
ISSN:
1000-6133
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参考文献量
1
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