功率驱动芯片自动测试系统的硬件设计与研究

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中文摘要：文章旨在设计一种自动化测试系统用硬件,用于全面测试功率驱动芯片.通过详细设计多个核心模块(如开短路测试、静态参数测试和动态参数测试等),实现了对IR2136系列功率驱动芯片的自动化测试,并表现出良好的测试结果重复性和准确性.所设计的自动测试系统不仅能够提高测试效率和准确性,还具备故障处理能力,确保了测试过程的安全性和系统的可靠性.此外,该系统通过精确的故障检测与处理模块增强了整体的鲁棒性,对保障功率驱动芯片质量具有重要意义.

作者：

吴迪

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作者单位：

中船海为高科技有限公司,河南郑州 450066

关键词：

驱动芯片自动测试系统硬件设计

出版年：

2024

今日制造与升级

ISSN：

年,卷(期)：2024.(10)