国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
VDMOS雪崩耐量参数测试技术研究
VDMOS雪崩耐量参数测试技术研究
下载
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
原文链接
国家科技期刊平台
NETL
NSTL
万方数据
维普
中文摘要:
目前,很难找到介绍关于VDMOS参数的测试方法的文献,而且所能找到的文献主要介绍的都是VDMOS的基本测试方法,且多是静态参数.而VDMOS的动态参数占全部待测参数的70%之多,不同的参数需要搭建不同的测试电路环境,并且由于动态参数测试较复杂,因此很难实现快速准确的测量,尤其是大功率VDMOS动态参数.只有建立全面的参数测试手段,方能指导器件的研发及使用.论文重点分享了在VDMOS雪崩耐量测量中技术难点和解决思路.论文涉及的工作内容对于目前国内研发VDMOS器件的测试工作将起到一定的指导作用.
外文标题:
Study on Avalanche Tolerance Measurement Technology of VDMOS
收起全部
展开查看外文信息
作者:
乔文霞、黄伟
展开 >
作者单位:
中国船舶重工集团公司第七二二研究所 武汉 430205
关键词:
VDMOS
动态参数
雪崩耐量
测试
出版年:
2021
DOI:
10.3969/j.issn.1672-9722.2021.04.004
计算机与数字工程
中国船舶重工集团公司第七0九研究所
计算机与数字工程
CSTPCD
影响因子:
0.355
ISSN:
1672-9722
年,卷(期):
2021.
49
(4)
参考文献量
9