摘要
为实现绝缘子表面污秽的非接触式、不停电检测目标,提出了一种绝缘子污秽高光谱检测方法,通过获取绝缘子表面污秽的光谱数据,采用多元散射校正法对光谱数据进行预处理,计算被测物光谱与标准试样光谱的皮尔逊相关系数,利用相似度来识别污秽物成分;在实验室测试已知不同浓度的污秽物光谱,利用最小二乘法建立污秽物浓度与光谱幅值之间的对应关系,实现待测物浓度的估计.实验结果表明,采用高光谱检测方法,可实现对绝缘子表面污秽物成分的识别和物质浓度的估计,采用拟合模型计算的物质浓度与实际值的误差不超过6.99%,可用于绝缘子表面污秽物成分及浓度的检测,为绝缘子的清扫及维护提供依据.
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