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建筑工程技术与设计
2018,
Issue
(35) :
4669.
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法
建筑工程技术与设计
2018,
Issue
(35) :
4669.
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来源:
NETL
NSTL
万方数据
半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法
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摘要
随着科学技术的快速发展,很多先进技术不断融入各个行业的发展中。半导体集成电路技术的发展不仅有效地减小了集成电路体积,还在一定程度上增加了制造工艺和电路结构的复杂程度。半导体集成电路工艺误差及其相关因素直接影响着自身的可靠性。因此,为了有效地提高半导体集成电路工艺的可靠性,降低产品成本,相关技术人员应该针对半导体集成电路进行可靠性测试,并合理地选择数据处理方法。
关键词
半导体集成电路
/
可靠性测试
/
数据处理
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出版年
2018
建筑工程技术与设计
建筑工程技术与设计
影响因子:
0.156
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