科技研究2014，Issue(1) ：209-209.

ICP-AES法测定氧化铟中的痕量杂质

王鑫
科技研究2014，Issue(1) ：209-209.
✕
  • NETL
  • NSTL
  • 万方数据

ICP-AES法测定氧化铟中的痕量杂质

王鑫1
扫码查看

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第四十六研究所 天津市 300220
  • 折叠

摘要

建立了氧化铟粉末中Al、Cu、Cd、Cr、Fe、Mg、Mn、Mo、Ni、Ti、Zn11种杂质元素的ICP-AES测定方法，关于基体对被测元素的干扰，选择了仪器最佳工作参数，方法回收率为：92.8%~110.7%相对标准偏差<3%。

关键词

电感耦合等离子体发射光谱/氧化铟/痕量杂质

引用本文复制引用

出版年

2014
科技研究

科技研究

ISSN：
参考文献量2
段落导航相关论文