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科技研究
2014,
Issue
(7) :
307-307,287.
星载电子设备抗辐射分析和加固措施
刘苗培
王鹏飞
科技研究
2014,
Issue
(7) :
307-307,287.
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星载电子设备抗辐射分析和加固措施
刘苗培
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王鹏飞
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作者信息
1.
中国电子科技集团公司第二十七研究所 河南郑州 450047
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摘要
空间粒子辐射是星上电子设备故障的主要原因之一。本文首先介绍了空间辐射环境,又从辐射总剂量效应、单粒子效应和内带电效应分析了空间辐射对电子设备的危害,最后提出了相应的抗辐射加固措施。
关键词
星载
/
空间辐射
/
电子设备
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2014
科技研究
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