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星载电子设备抗辐射分析和加固措施
星载电子设备抗辐射分析和加固措施
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万方数据
中文摘要:
空间粒子辐射是星上电子设备故障的主要原因之一。本文首先介绍了空间辐射环境,又从辐射总剂量效应、单粒子效应和内带电效应分析了空间辐射对电子设备的危害,最后提出了相应的抗辐射加固措施。
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作者:
刘苗培、王鹏飞
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作者单位:
中国电子科技集团公司第二十七研究所 河南郑州 450047
关键词:
星载
空间辐射
电子设备
出版年:
2014
科技研究
科技研究
ISSN:
年,卷(期):
2014.
(7)
参考文献量
1