科技研究2014，Issue(14) ：114-114.

集成电路测试技术与应用

杨斌
科技研究2014，Issue(14) ：114-114.
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集成电路测试技术与应用

杨斌1
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作者信息

  • 1. 云南省电子工业研究所 云南昆明 650000
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摘要

本文结合笔者工作时间经验，针对 ATS 集成电路测试系统中 IC（集成电路）测试技术的应用做出分析讨论研究，期望对各位读者起到一定的辅助作用。

关键词

集成电力/测试/技术/应用

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出版年

2014
科技研究

科技研究

ISSN：
参考文献量4
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