国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
科技研究
2014,
Issue
(18) :
371-371.
高可靠电子元器件检测现状与建议探讨
卢向军
孙宇
科技研究
2014,
Issue
(18) :
371-371.
引用
认领
✕
来源:
NETL
NSTL
万方数据
高可靠电子元器件检测现状与建议探讨
卢向军
1
孙宇
1
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
作者信息
1.
工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心 510610
折叠
摘要
高可靠电子元器件应用领域包括航天、军事、汽车等,一般要求进行高应力试验及特殊试验检测,以实现对其可靠性鉴定试验的评定。基于电子元器件检测的实践,指出了目前我国高可靠电子元器件检测中在标准、环境试验方法、检测设备等方面存在的不足,并针对现有技术水平和未来发展需求,提出了提高高可靠电子元器件检测能力的几点建议。
关键词
高可靠
/
元器件
/
检测
/
质量
引用本文
复制引用
出版年
2014
科技研究
科技研究
ISSN:
引用
认领
段落导航
相关论文
摘要
关键词
引用本文
出版年
参考文献
引证文献
同作者其他文献
同项目成果
同科学数据成果