科技研究2014，Issue(21) ：327-327.

半导体器件失效分析与检测

张亚峰 刘英斌
科技研究2014，Issue(21) ：327-327.
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半导体器件失效分析与检测

张亚峰 1刘英斌1
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  • 1. 河北普兴电子科技股份有限公司
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摘要

半导体元件的失效将直接影响相关产品的正常使用，文章主要就对半导体器件的失效原因进行了细致地分析并提出了几种检测的方法，供相关人士借鉴。

关键词

半导体/器件/失效分析/检测

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出版年

2014
科技研究

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ISSN：
参考文献量1
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