基于最小二乘法的简易电阻测试仪再开发

扫码查看

原文链接

NETL
NSTL
万方数据
维普

中文摘要：对于常规电子仪器开发来说，电子元器件由于受到自身固有性能及外界客观环境因素的影响，往往在实际测量与理论计算之间存在一定的偏差．最终导致电子仪器的整体性能受到影响。为了更好地还原真实的理论现象。需要在理论计算和实验测量之间架起一座桥梁．使其能够从不准确的测量值过渡到最终准确的实际输出值。这里．常用到的方法就是数据回归或曲线拟合，那么，其中的核心算法就是最小二乘法。

作者：

胡奇、吴丛博

展开 >

作者单位：

吉林工商学院

北京理工大学理学院

关键词：

最小二乘法电阻测试仪再开发电子元器件仪器开发环境因素电子仪器实际测量

出版年：

2012

科技成果纵横

中国技术市场协会沈阳市科技成果转化与推广促进会

科技成果纵横

影响因子：0.208

ISSN：1005-5096

年,卷(期)：2012.(4)