采用熔片法进行荧光分析

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中文摘要：现如今，化学分析技术得到了稳步发展，对磷矿石的分析通常运用仪器的办法及化学分析法，磷矿石的浮选流程样的分析离不开X射线荧光仪。在实际浮选分析磷矿石的过程中，浮选原矿后，成为精矿及尾矿，流程样品便采用压片法进行。然而，借助于X射线荧光仪这一办法在某些时候所得到的结果存在不精确现象，需再对工作曲线加以矫正，因为荧光仪的测量存在基体效应、颗粒效应和矿物效应等诸要素的影响，为此，可依靠熔片法消除，相比之下，通过熔片法分析荧光更为精确。

作者：

刘志彦

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作者单位：

云南磷化集团昆阳磷矿质检科云南晋宁 650600

关键词：

熔片法压片法 X射线荧光仪磷矿石分析

出版年：

2014

科技创业家

国家科技部《大众科技报社》

科技创业家

ISSN：2095-1043

年,卷(期)：2014.(1)

参考文献量4