国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
应变硅锗pMOSFET Ⅰ-Ⅴ和跨导模型研究
应变硅锗pMOSFET Ⅰ-Ⅴ和跨导模型研究
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
中文摘要:
应变硅锗pMOSFET器件是当前的研究热点,本文基于应变硅锗pMOSFET器件结构与特点,建立其I-V和跨导模型,对其进行了模拟仿真,获得了电流和跨导随关键参数的变化趋势,仿真结果表明比普通硅器件性能提升明显,为应变硅锗技术的发展奠定理论基础.
收起全部
展开查看外文信息
作者:
王颖
展开 >
作者单位:
陕西学前师范学院 基建处 陕西西安710100
关键词:
应变硅锗pMOSFET器件
能带结构
模型研究
出版年:
2017
科技经济导刊
科技经济导刊
ISSN:
年,卷(期):
2017.
(17)
参考文献量
1