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基于FPGA逻辑分析仪的设计

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20世纪70年代以来,伴随计算机技术、大规模集成电路、可编程逻辑器件、高速数据信号处理器的迅猛发展,各种数字系统的设计、开发、检测任务越来越多,也越来越复杂了。数字电路系统所处理的信息都是用离散的二进制来表示,常用“1”来表示高电平,“0”表示低电平,多个二进制位的组合构成一个数据,我们称这一领域是数据域;该领域测试技术即被称为数据域测试技术,简称数据域测试。

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2011

科技信息(学术版)
山东省技术开发服务中心

科技信息(学术版)

ISSN:1001-9960
年,卷(期):2011.(17)