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膜去溶和ICP-MS联用热焰模式直接测定CMOSIII甲醇中金属离子的含量
膜去溶和ICP-MS联用热焰模式直接测定CMOSIII甲醇中金属离子的含量
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中文摘要:
文章建立了直接测定半导体三级甲醇多元素含量的方法。以膜去溶作为进样系统,四级杆电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)作为分析仪器,采用热焰模式分析。首先测定CMOSIII甲醇,然后测定以Be,Co,In,Bi作为加标的CMOSIII甲醇,加标样品测定加标回收率,同时测定Na,Mg,K,Ca,Fe的检出限。实验结果证明该方法具有进样速度快、精密度高等优点。热焰模式提高了碳的燃烧度,溶液中离子电离效率得到提升,降低了锥孔碳的积累,仪器信号漂移变缓,提高了准确度。膜去溶与ICP-MS联用是快速分析半导体三级甲醇中金属离子的有效方法,膜去溶的使用解决了常规雾化器进样容易熄火的问题,有效的减小了基体干扰,同时热焰模式提高了仪器的整体灵敏度。
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作者:
赵淑兰、李海燕、刘国强、刘毅春、方晓红、董天姿
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作者单位:
内蒙古自治区矿产实验研究所
关键词:
甲醇
电感耦合等离子体质谱仪
膜去溶
热焰
多元素
出版年:
2014
科技信息
山东省技术开发服务中心
科技信息
影响因子:
0.15
ISSN:
1001-9960
年,卷(期):
2014.
(10)
被引量
1
参考文献量
7