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X荧光光谱法测试地质样品中的锡

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应用X射线荧光光谱法对地质样品当中的锡进行测试，采用人工配置标准样品的方法来共同构建标准曲线，曲度梯度都要保证其合理性和均匀性，同时在实际的操作中，还要保证其具有非常好的线性特征。这种方法使用的是α经验系数法完成基体校正工作。应用Rh的康普顿散射当作是内标，对地质样品当中的锡元素进行测定，检出限可以达到3.59μg/g，样品的相对标准偏差能够达到非常好的水平是，所以，其在测试效果上也有着非常好的表现。

高军

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黑龙江省齐齐哈尔矿产勘查开发总院测试中心，黑龙江 齐齐哈尔 161000

X射线荧光光谱 地质样品 标准样品

2016

科技信息
山东省技术开发服务中心

科技信息

影响因子：0.15
ISSN：1001-9960
年,卷(期)：2016.(9)
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