国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
浅析电子元器件的失效分析技术
浅析电子元器件的失效分析技术
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域,可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
维普
万方数据
中文摘要:
目的对电子元器件的失效分析技术进行研究并加以总结。方法通过对电信器类、电阻器类等电子元器件的失效原因、失效机理等故障现象进行分析。结论电子元器件的质量与可靠性保证体系一个重要组成部分是失效分析,对电子元器件进行失效分析,才能及时了解电子元器件的问题所在,才能为设备及系统的正常工作带来可靠保障。
收起全部
展开查看外文信息
作者:
王德权
展开 >
作者单位:
大庆南垣集团股份有限公司 163517
关键词:
电子元器件
失效分析技术
研究
失效原因
保障
出版年:
2013
科技与企业
中国科普作家协会
科技与企业
影响因子:
0.883
ISSN:
1004-9207
年,卷(期):
2013.
(7)
被引量
9
参考文献量
4