国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
贴片式电子元件典型的失效模式分析
贴片式电子元件典型的失效模式分析
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域，可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
中文摘要：
本文主要通过对两组贴片式电子元件的失效进行分析，并从中发现失效的原因，再针对电子元件的失效原因提出调整措施，希望可以给以后人们在对贴片式电子元件的设计上有新的对照设计方案，避免元件的失效。
收起全部
展开查看外文信息
作者：
许世明
展开 >
作者单位：
广东省信宜市信息中心 广东 信宜 525300
关键词：
贴片式电阻器
贴片式电子元件
银电极
失效机理
硫化腐蚀
电化学迁移
出版年：
2015
科技致富向导
中国科学技术协会科普部,山东省科学技术协会
科技致富向导
影响因子：
0.698
ISSN：
1007-1547
年,卷(期)：
2015.
(12)
参考文献量
5
NETL
NSTL
万方数据
