科技展望2017，Vol.27Issue(6) ：247-248.

晶体硅光伏组件PID产生的原因与恢复研究

王勋 刘志刚
科技展望2017，Vol.27Issue(6) ：247-248.
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晶体硅光伏组件PID产生的原因与恢复研究

王勋 1刘志刚2
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作者信息

  • 1. 无锡市产品质量监督检验中心,江苏 无锡 214101;国家太阳能光伏产品质量监督检验中心,江苏 无锡 214101
  • 2. 上海质卫环保科技有限公司,上海 201103
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摘要

PID(Potential Induced Degradation)全称为电势诱导衰减,该现象对光伏系统的发电量有很大的影响,本文分析了太阳能电站PID现象产生的原因及影响因素,提出了避免太阳能电站PID现象的方法.

关键词

晶体硅光伏组件/PID/产生/原因/恢复研究

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出版年

2017
科技展望
宁夏科技信息研究所

科技展望

ISSN：1672-8289
参考文献量2
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