国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
红外热成像无损检测专利技术综述
红外热成像无损检测专利技术综述
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域，可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
中文摘要：
本文从专利技术的角度出发,通过分析中国重点申请人在红外热成像无损检测技术领域的专利申请,有助于技术人员了解目前中国的专利申请人状况、主要研发方向,了解该领域的专利技术现状.
收起全部
展开查看外文信息
作者：
阎良萍
展开 >
作者单位：
国家知识产权局专利局,北京 100088
关键词：
专利
红外热成像
重点申请人
出版年：
2017
科技展望
宁夏科技信息研究所
科技展望
ISSN：
1672-8289
年,卷(期)：
2017.
27
(22)
参考文献量
1
NETL
NSTL
万方数据
