数字电子电路测试技术

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中文摘要：科技的进步带给人类的变革是全方面的,对各个行业也是一样.在电子电路领域,芯片的体积随着科技发展变得越来越小,芯片的制程发展速度很快,其内部的数字电子电路的设计越来越复杂,在很大程度上给其测试带来了困难.而产品要投入使用,并保证其质量就必须进行相关的测试,优秀的测试方法能够提升产品设计的水平,进而提高产品的质量.本文以此为着力点,对数字电子电路测试技术这一课题进行系统的分析.

作者：

黄澍

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作者单位：

南京邮电大学通达学院,江苏扬州 225127

关键词：

数字电子电路测试

出版年：

2017

科技展望

宁夏科技信息研究所

科技展望

ISSN：1672-8289

年,卷(期)：2017.27(28)

参考文献量3