科技展望2017，Vol.27Issue(28) ：167.

数字电子电路测试技术

黄澍
科技展望2017，Vol.27Issue(28) ：167.
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数字电子电路测试技术

黄澍1
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  • 1. 南京邮电大学通达学院,江苏 扬州 225127
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摘要

科技的进步带给人类的变革是全方面的,对各个行业也是一样.在电子电路领域,芯片的体积随着科技发展变得越来越小,芯片的制程发展速度很快,其内部的数字电子电路的设计越来越复杂,在很大程度上给其测试带来了困难.而产品要投入使用,并保证其质量就必须进行相关的测试,优秀的测试方法能够提升产品设计的水平,进而提高产品的质量.本文以此为着力点,对数字电子电路测试技术这一课题进行系统的分析.

关键词

数字/电子/电路/测试

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出版年

2017
科技展望
宁夏科技信息研究所

科技展望

ISSN：1672-8289
参考文献量3
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