摘要
提出了 X 射线荧光光谱法(XRF)同时测定土壤和水系沉积物中 Br、Cl、Al2O3、CaO、Cr、Cu、Fe2O3、Ga、K2O、MgO、Mn、Na2O、Nb、Ni、P、Pb、Rb、SiO2、Ti、Zn、Zr、V、Y等 23 种主次痕量组分的方法.利用粉末压样机将样品压制成圆形样片后,按照仪器工作条件进行测定.以120 个国家标准物质为校准样品绘制校准曲线,采用经验系数法和康普顿散射内标法校正基体效应,研究了Pb 对Ga、Br测定结果的影响.结果表明:高含量Pb 会对Ga、Br产生谱线重叠干扰,因此选择Pb 为Ga、Br谱线重叠干扰的校正元素,并将Br的校正系数由负值-0.000 48 调整为正值0.000 48;23 种组分检出限为 1～1 000μg·g-1;以两个未参与曲线校正的土壤和水系沉积物标准物质进行方法验证,所得测定值与认定值基本一致,测定值的相对标准偏差(n=12)均小于 10%,符合DZ/T 0258-2014 要求.
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