摘要
将近红外高光谱成像技术与偏最小二乘-判别分析(PLS-DA)结合,建立了快速无损鉴定核桃仁品质的分类模型.在 900～1 700 nm全波长范围内,采集不同品质核桃仁的光谱数据,以平均光谱作为原始光谱,以标准正态变量对原始光谱数据进行预处理,采用主成分分析对原始光谱数据降维,提取到 970,1 151,1 210,1 215,1 256,1 309,1 340,1 379,1 389,1 404,1 460 nm 等11 个特征波长.基于全光谱和特征波长,分别建立两种 PLS-DA 分类模型.结果表明:全光谱条件下所建模型在校准集和验证集上的预测正确率最高,可达 100%;特征波长条件下所建模型在相同数据集上的分类正确率略有下降,为 99.3%;两种模型在测试集上的预测正确率均为 100%.
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