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基于宏孔硅的CsI(Tl)像素化X射线闪烁屏转换效率模拟的研究
基于宏孔硅的CsI(Tl)像素化X射线闪烁屏转换效率模拟的研究
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中文摘要：
本文以Geant4软件为基础模拟研究了基于宏孔硅的像素化X射线闪烁屏的通道深度、通道孔径、通道内壁结构等因素与其转换效率的关系.模拟结果表明:随着通道深度、孔径增加,转换效率越来越高;随着通道内壁反射率的增加,转换效率也增加.
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作者：
李怡霖
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作者单位：
长春理工大学研究生院理学院,吉林长春,130022
关键词：
宏孔硅
闪烁屏
转换效率
CsI(Tl)X-ray
出版年：
2021
数码设计(下)
数码设计(下)
ISSN：
1672-9129
年,卷(期)：
2021.
10
(2)
参考文献量
2
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