分布反馈激光器Burn-in老化方法的探究

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中文摘要：分布反馈激光器芯片是光通信系统的核心,其可靠性对整个通信系统的寿命起着非常重要的作用,早期剔除隐患芯片尤为关键.本文对 2.5G 1310 DFB激光器芯片展开了早期筛选实验和失效分析.本文与常规老化进行对比实验,结果表明:在对激光器进行温度、电流加速(100℃、100mA)的基础上,增加光加速("25℃、180 mA、15min""25℃、100 mA、24h")的Burn-in方法,比常规老化方法更有效地对薄弱激光器进行早期剔除.

作者：

李更、齐利芳、焦梦丽

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作者单位：

国基北方芯片技术研究所,河北石家庄 050051

关键词：

分布式反馈激光器可靠性早期筛选

出版年：

2024

模型世界

体育博览杂志社

模型世界

影响因子：0.004

ISSN：1008-8016

年,卷(期)：2024.(25)