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主流的微电子器件封装技术与常见的可靠性评估方法
主流的微电子器件封装技术与常见的可靠性评估方法
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中文摘要:
微电子器件作为现代电子技术的基石,其可靠性对整个电子行业至关重要.随着电子设备向更小型化、高性能化发展,微电子器件的可靠性问题日益凸显,微电子器件封装技术对于保证器件性能和延长使用寿命具有至关重要的作用.本文概述当前市场上主流封装技术,简要介绍一些加速失效的影响因素,并提出一系列封装可靠性评估方法.
外文标题:
Mainstream microelectronic device packaging technologies and common reliability evaluation methods
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作者:
秦绍文、于耀、王国宁、刘小丽
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作者单位:
华东光电集成器件研究所,安徽 蚌埠 233000
关键词:
微电子器件
封装
可靠性
出版年:
2025
DOI:
10.3969/j.issn.1674-4977.2025.01.047
品牌与标准化
辽宁省标准研究院
品牌与标准化
影响因子:
0.042
ISSN:
1674-4977
年,卷(期):
2025.
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