摘要
在非制冷红外焦平面探测器中,由于产品生产制造工艺存在一定的不均匀性,焦平面阵列中各个像元对于红外吸收及响应情况并不是完全相等的.这样,在对使用场景成像时,图像中会出现空间域分布的固定噪声,被称为固定图形噪声(Fixed Pattern Noise,FPN),其对成像质量产生较大影响.为了尽可能消除这种噪声的影响,行业中采用多种算法进行校正,但经过这种方法校正后,并不能完全消除固定图形噪声,图像中仍然会残存一定的空间噪声,被称为残余固定图形噪声(Residual Fixed Pattern Noise,RFPN).为了定量分析这种残余噪声的影响,我们提出了一种测试方法,运用这种测试计算方法,我们得到了不同目标温度下探测器残余固定图形噪声,根据这种噪声与噪声等效温差(NETD)的大小关系,可以定量表征该噪声对成像影响,进一步说明这种噪声不可忽略.
NETL
NSTL
万方数据