摘要
目的 探讨SD大鼠脑缺血/再灌注损伤(MCAO/R)模型脑组织缺血半暗带(IP)的形成及持续时间,为研究保护缺血半暗带药物的给药时间提供实验依据.方法 采用激光多普勒(LDF)和激光散斑(LSI)监测脑血流量(CBF)变化的条件下线栓法复制大鼠脑缺血/再灌注损伤模型,缺血2 h后实施再灌注,取缺血时脑血流量下降至42％～53％,再灌注后脑血流量恢复至50％以上的大鼠纳入实验研究;术前术后监测大鼠血糖、肝温、体重;于再灌注后0、2、6、12、24、72 h随机处死6只大鼠,采用免疫荧光法检测模型大鼠脑组织微管相关蛋白2(MAP-2)的阳性表达和分布,以脑组织微管相关蛋白2阳性表达消失,视野下呈现黑洞状区域作为坏死中心区,以脑组织微管相关蛋白2标记的神经元出现排列混乱,胞体固缩、树突变短甚至消失的区域作为缺血半暗带区,并观察缺血半暗带区持续存在的时间.结果 再灌注后大鼠脑缺血/再灌注损伤模型脑组织微管相关蛋白2的阳性表达逐渐变弱,于缺血2h再灌注6h后模型大鼠脑组织出现脑组织微管相关蛋白2的阳性表达消失,呈现黑洞状的缺血中心区,并在周围出现神经细胞排列紊乱,大片神经细胞胞体、树突稀疏的缺血半暗带区域,该区持续至再灌注后72 h消失.结论 SD大鼠脑缺血/再灌注损伤模型脑组织于缺血2 h再灌注6 h时可见缺血半暗带区形成,缺血半暗带区可持续至再灌注后72 h.
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