信息技术与信息化2024，Issue(8) ：95-98.DOI:10.3969/j.issn.1672-9528.2024.08.022

基于FPGA的自制测试系统

朱清 张尧 张铆
信息技术与信息化2024，Issue(8) ：95-98.DOI:10.3969/j.issn.1672-9528.2024.08.022
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基于FPGA的自制测试系统

朱清 1张尧 1张铆1
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  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡 214035
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摘要

针对芯片测试整个流程消耗ATE设备机时较多的问题,提出一种自制自动测试架构系统,基于主控系统、FPGA互连系统和上位机监控系统,利用FPGA内部逻辑电路可配置特点实现了测试流程的自动化.在实际应用中,显示测试流程简单,监控上位机界面友好,证明了所设计的系统的可行性.监控系统实现了芯片整个测试流程的透明化及全流程可追溯,保证了测试的可靠性,极大释放了ATE的占用时间,提高了整体的测试效率,降低了测试成本.

关键词

芯片/自动化测试/实装板/FPGA/测试系统

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出版年

2024
信息技术与信息化
山东电子学会

信息技术与信息化

影响因子：0.29
ISSN：1672-9528
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