PCIE的一种测试方法研究

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中文摘要：集成电路具有体积小、重量轻、寿命长和可靠性高等优点,同时成本也相对低廉,便于大规模生产,在电性能方面远远优于晶体管元件组成的电路.从第一款集成电路被研发再应用到生活中开始,在短短几十年的发展过程中,被广泛应用于军事、工业、通信和遥控等多个领域,这也标志着世界进入集成电路时代.目前集成电路的规模越来越大,集成的功能也越来越多,速度也越来越快.针对PCIE类型电路,基于ATE和测试仪器,对电路内部的DFT可测性进行系统的硬件设计和方法研究.

作者：

费晓华、武新郑

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作者单位：

中科芯集成电路有限公司江苏无锡 214035

关键词：

集成电路 ATE PCIE 测试方法 DFT

出版年：

2024

DOI：

10.3969/j.issn.1672-9528.2024.08.030

信息技术与信息化

山东电子学会

信息技术与信息化

影响因子：0.29

ISSN：1672-9528

年,卷(期)：2024.(8)