世界电子元器件2014，Issue(4) ：30-33.

利用S参数对RF开关模型进行高频验证

S-Parameters Allow High-Frequency Verification of RF Switch Models

Joseph Creech
世界电子元器件2014，Issue(4) ：30-33.
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利用S参数对RF开关模型进行高频验证

S-Parameters Allow High-Frequency Verification of RF Switch Models

Joseph Creech1
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作者信息

  • 1. Analog Devices公司
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出版年

2014
世界电子元器件
中国电子信息产业发展研究院

世界电子元器件

影响因子：0.44
ISSN：1006-7604
被引量1
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