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基于静电力显微镜针尖电场诱导的电光发色团在主客体功能复合膜中的迁移

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基于静电力显微镜(EFM)研究了针尖静电场诱导的电光发色团在聚碳酸酯(PC)功能复合膜中的迁移.在施加偏压的针尖强电场诱导下,原子力显微镜(AFM)形貌像和相位像表明客体分子逐渐从PC薄膜的本体向样品表面迁移,并形成纳米尺寸的小粒子.这一观察结果表明,外部电场可触发主客体功能复合材料中客体电光发色团的迁移,并导致复合材料微观结构和组成的不稳定,致使功能复合薄膜功能减弱,甚至失效.
Observation of Field-induced Migration of Electro-optic Chromophores in Guest-host Composite Film Induced by Electric Force Microscopy

戚桂村、韩朋、王湘、姜超、李秉海、张晓红

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中国石油化工股份有限公司北京化工研究院,北京100013

静电力显微镜 电光发色团 迁移

中国石油化工股份公司有限公司项目

420043

2022

10.3969/j.issn.1005-5770.2022.02.026

塑料工业
中蓝晨光化工研究院有限公司

塑料工业

CSTPCDCSCD北大核心
影响因子：0.685
ISSN：1005-5770
年,卷(期)：2022.(2)
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