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红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

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由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X-ray)技术,在测量起薄薄膜厚度时技术不完善,更无法测量多层共挤材科中阻隔层的犀度.NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理,可测量多层共挤材科每一层的厚度;NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响,能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度.

董殿会、程江、王广彪

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NDC红外技术公司,上海,200233

红外测厚技术 超薄薄膜 多层共挤薄膜

2008

塑料加工
江苏省塑料加工工业协会

塑料加工

ISSN：
年,卷(期)：2008.44(1)
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