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数码世界
2021,
Issue
(2) :
274-275.
集成电路短路失效原因探讨
胡立端
数码世界
2021,
Issue
(2) :
274-275.
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来源:
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集成电路短路失效原因探讨
胡立端
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作者信息
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麦克罗泰克(常州)产品服务有限公司
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摘要
当前随着我国电子行业的不断发展,集成电路短路失效引起了人们的重点关注,过电应力极容易造成CMOS集成电路短路失效,其中,导电通路、电路结构、人工误操作等因素是短路失效的主要原因,本文主要进行了过电应力的介绍,对电流幅度较小情况下诱发的过电应力烧毁现象进行了分析,并且利用SEM&EDS技术进行了集成电路短路失效原因的分析,以便为技术人员集成电路故障归零、失效分析提供参考依据.
关键词
集成电路
/
短路失效
/
过电应力
引用本文
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出版年
2021
数码世界
天津电子信息应用教育中心,天津市科学技术信息研究所
数码世界
ISSN:
1671-8313
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2
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