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电子封装QFP组件热疲劳有限元分析与研究

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表面组装技术(Surface Mount Technology,SMT)在不断地发展成熟,封装技术和封装形式在不断的更新。细间距器件之所以正在成为主流的产品,是因为微电子器件密度越来越高,在实际的生产过程中,QFP(quad flat package)器件的使用仍然很普遍。而本文利用有限元分析方法,通过ANSYS 分析软件而确定建立三维立体模型,模拟 QFP 组件在整个散热过程中所发生的变化,最后的处理各个组件的分布云图,从而了解到整个封装的温度分布。并对结果进行了分析与研究,最终模拟计算的结果与实际试验的结果基本一致。
Electronic packaging QFP components thermal fatigue ifnite element analysis and research

李灶鹏

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北华航天工业学院 电子与控制工程学院 河北廊坊 065000

QFP 热疲劳 有限元 电子封装 ANSYS

2015

商品与质量·理论研究
中国保护消费者基金会

商品与质量·理论研究

影响因子:0.042
ISSN:1006-656X
年,卷(期):2015.(2)
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