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TO封帽机视觉对位技术研究

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封帽是TO(Transistor Outline,TO)型光器件制造中关键工序之一,本文介绍了TO封帽机主要采用的三种视觉对位方法,并分别论述了三种方法的优缺点,通过分析比较,认为文中所述的第二种方式和第三种方式结合更适用于封帽工艺.
Research on Visual Alignment Technology of TO Capping Machine
Capping is one of the key processes in the manufacturing of TO(Transformer Outline,TO)optical devices.This article introduces the three main visual alignment methods used in TO capping machines,and discus-ses the advantages and disadvantages of each method.Through analysis and comparison,it is believed that the combination of the second and third methods described in the article is more suitable for capping processes.

TO devicecappingvision alignment

王瑞鹏、孙文涛、郝鹏飞

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中国电子科技集团公司第二研究所,山西 太原 030024

TO器件 封帽 视觉对位

2024

山西电子技术
山西省电子工业科学研究院 山西省电子学会

山西电子技术

影响因子:0.197
ISSN:1674-4578
年,卷(期):2024.(3)