国家学术搜索
登录
注册
中文
EN
首页
|
集成电路兼容联合测试系统探究
集成电路兼容联合测试系统探究
引用
认领
扫码查看
点击上方二维码区域，可以放大扫码查看
原文链接
NETL
NSTL
万方数据
中文摘要：
随着人们生活水平的提高,手机、电脑等电子设备在我们的生活中日渐占据举足轻重的地位.作为电子设备的核心——集成电路,也逐渐受到人们的重视.
收起全部
展开查看外文信息
作者：
李雪
展开 >
作者单位：
300000 天津中科智能技术研究院有限公司 天津
关键词：
集成电路
发展现状
发展前景
出版年：
2019
数字化用户
数字化用户
ISSN：
年,卷(期)：
2019.
25
(13)
参考文献量
1
NETL
NSTL
万方数据
